性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求 1、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法GB2423.1-89（IEC68-2-1） 2、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法GB2423.2-89（IEC68-2-2） 3、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T2423.3-93（IEC68-2-3） 4、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程GB/T423.4-93（IEC68-2-30） 5、GJB150.3（ML-STD0-810D）高溫試驗方法 6、GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗方法 7、GJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》 8、GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》 9、GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗交變濕熱試驗》 10、GJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法》411濕熱試驗 11、GJB360.8-87（MIL-STD-202f）高溫壽命試驗 12、GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》 13、GB/T5170.5-96《濕熱試驗設(shè)備》 14、GB10592-93《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》試驗Da：交變濕熱試驗方法 15、GB10586-93《濕熱試驗箱技術(shù)條件》
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