一、腐蝕氣體綜合試驗(yàn)箱用途概述：

      適用于對(duì)大型電工電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行各種有毒（害）氣體試驗(yàn)產(chǎn)品暴露于密閉無(wú)光照的含有毒（害）氣體濃度的空氣環(huán)境中，模擬在有毒（害）氣體惡劣環(huán)境條件下對(duì)產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行質(zhì)量苛刻的要求與變化的分析。利用多種氣體，在一定的溫度和相對(duì)的濕度的環(huán)境下對(duì)材料或產(chǎn)品進(jìn)行加速腐蝕，重現(xiàn)材料或產(chǎn)品在一定時(shí)間范圍內(nèi)所遭受的破壞程度。

二、腐蝕氣體綜合試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn):

1、IEC 68-2-60 試驗(yàn)方法 Ke：人造低濃度污染氣體腐蝕試驗(yàn)、

2、EN 60068-2-60-1996環(huán)境試驗(yàn)第2-60部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ke：流動(dòng)混合氣體的腐蝕試驗(yàn) 

3、DIN 50018《飽和環(huán)境下的二氧化硫試驗(yàn)》

4、GB 2423.19-81《接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫腐蝕試驗(yàn)》

5、GBT 2423.33-2005《高濃度的二氧化硫腐蝕試驗(yàn)》 

6、GB 9789-88《通常凝露狀態(tài)下的二氧化硫腐蝕試驗(yàn)》

7、GBT 2423.51-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Ke 流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)、

二. 腐蝕氣體綜合試驗(yàn)箱規(guī)格及型號(hào):（用戶選型）

型號(hào): ZT-CTH-80A      內(nèi)形尺寸W×H×D   400×500×400mm

型號(hào): ZT-CTH-150A    內(nèi)形尺寸W×H×D   500×600×500mm

型號(hào): ZT-CTH-225A    內(nèi)形尺寸W×H×D   500×750×600mm

型號(hào): ZT-CTH-408A    內(nèi)形尺寸W×H×D   600×850×800mm

型號(hào): ZT-CTH-800A    內(nèi)形尺寸W×H×D   1000×1000×800mm

型號(hào): ZT-CTH-1000A  內(nèi)形尺寸W×H×D   1000×1000×1000mm

三.腐蝕氣體復(fù)合試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):

1、溫度范圍：+10℃/0℃/-10℃/-20℃/-30℃/-40℃～+80℃（用戶選用）

2、適用氣體：SO2（二氧化硫）/CO2(二氧化碳)/二氧化氮NO2/（硫化氫）H2S/(LV氣)CL2

3、測(cè)試方法: SO2/CO2/NO2/O3/H2S/CL2 五種氣體可單獨(dú)使用、可混合使用

4、濕度范圍：30%～98%R.H

5、溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃

6、溫度均勻度：≤±1.5℃

7、濃度值：Ppm、ppb、pphm、％、voL.（可選定）

8、升溫速率：0.7～1.0℃/min

9、氣體濃度：（范圍選擇）

    SO2：0.1～200ppm   (10～200000ppb)

    CO2：0.1～20ppm    (100～20000ppb)

    NO2：0.1～20ppm    (100～20000ppb)

    H2S：0.01～200ppm (10～200000ppb)

    CL2：0.01～20ppm    (10～20000ppb)

10、氣體流速：12～16mm/S（可調(diào)）

11、試樣架：2套

12、時(shí)間設(shè)定范圍：0～9999小時(shí)

13、使用電源：AC1Φ3W 220V50HZ，AC3Φ5W 380V  50HZ（接地）